放射光イメージング利用システム開発ユニット

第3世代の放射光施設では、X線の干渉効果を利用した多くの斬新なX線イメージング技術が誕生しています。放射光イメージング利用システム開発ユニットは、SPring-8のアンジュレータービームラインBL29XULにおける、回折顕微鏡、ナノ集光等、世界最先端のX線イメージング研究や、硬X線光電子分光等の先端研究の優れた技術が効率よくサイエンスに結び付く様に共通機器高度化の研究を進め、医学、生物学、物性科学に貢献します。また、オリジナルな発想に基づくX線イメージング技術、光学素子開発を進め、SPring-8や第４世代光源であるX線自由電子レーザーSACLAの利用研究に向けた開発にも取り組みます。

研究テーマ

• X線イメージング研究や、硬X線光電子分光等の利用研究のための共通機器高度化の研究
• オリジナルな発想に基づくX線イメージング技術の開発
• X線自由電子レーザー施設における利用研究のための光学素子開発

主要論文

1. Kohmura, Y., Sawada, K., Fukatsu, S., Ishikawa, T.:
   "Controlling the Propagation of X-Ray Waves inside a Heteroepitaxial Crystal Containing Quantum Dots Using Berry's Phase."
   Phys. Rev. Lett. 110, 057402-1-057402-4 (2013)
2. 香村芳樹, 澤田桂, 石川哲也:
   "シリコン歪み結晶によるX線の巨大横すべり現象."
   放射光(日本放射光学会), 24, 3, 153 (2011)
3. Takahashi, Y., Kohmura, Y., et al.:
   "Multiscale element mapping of buried structures by ptychographic x-ray diffraction microscopy using anomalous scattering."
   Applied Physics Letters, 99, 131905-1-131905-3 (2011)
4. Kohmura, Y., Sawada, K., Ishikawa, T.:
   "Berry-Phase Translation of X Rays by a Deformed Crystal."
   Phys. Rev. Lett. 104, 244801-1-244801-4 (2010)
5. Kohmura, Y., Sawada, K., Taguchi, M., Ishikawa, T., Ohigashi, T., Suzuki, Y.:
   "Formation of x-ray vortex dipoles using a single diffraction pattern and direct phase measurement using interferometry."
   Applied Physics Letters 94, 101112-1-101112-3 (2009)
6. Jiang, H., Ramunno-Johnson, D., Song, C., Amirbekian, B., Kohmura, Y., Nishino, Y., Takahashi, Y., Ishikawa, T., Miao, J.:
   "Nanoscale Imaging of Mineral Crystals inside Biological Composite Materials using X-ray Diffraction Microscopy."
   Phys. Rev. Lett. 100, 038103-1-038103-4 (2008)
7. Kohmura, Y., Sakurai, T., Ishikawa, T., Takeuchi, A., Suzuki, Y., Goto, S.:
   "Determination of complex transmissivity using x-ray in-line holography and two-beam interferometry."
   Journal of Applied Physics 102, 023101-1-023101-5 (2007)
8. Song, C., Ramunno-Johnson, D., Nishino, Y., Kohmura, Y., Ishikawa, T., Chen, C.C., Lee, T.K., Miao, J.:
   "Phase Retrieval from Exactly Oversampled Diffraction Intensity Through Deconvolution."
   Phys. Rev. B. 75, 012102-1-012102-4 (2007)
9. Miao, J., Chen, C.C., Song, C., Nishino, Y., Kohmura, Y., Ishikawa, T., Ramunno-Johnson, D., Lee, T.K., Risbud, S.H.:
   "Three-Dimensional GaN-Ga2O3 Core Shell Structure Revealed by X-ray Diffraction Microscopy."
   Phys. Rev. Lett. 97, 215503-1-215503-4 (2006)
10. Kohmura, Y., Nishino, Y., Ishikawa, T., Miao, J.:
    "Effect of Distorted Illumination Waves on Coherent Diffraction Microscopy."
    Journal of Applied Physics 98,123105-1-123105-6 (2005)