研究紹介

創発物性科学研究センター

創発現象観測技術研究チーム

チームリーダー 進藤 大輔 (D.Eng.)
進藤 大輔 (D.Eng.)

高分解能電子顕微鏡法や分析電子顕微鏡法による微細構造解析と組成・状態分析を行うと共に、電子線ホログラフィーにより試料内外の電磁場の解析を行っている。電子線ホログラフィーは電子の波動性に注目し、その干渉効果を利用して電磁場をナノスケールで観測できる最先端の科学技術である。電磁場の解析では、複数の探針を装着した試料ホルダーを導入し、電圧や磁場を試料に印加した際の試料内外の電磁場の変化を追跡し、その電気的・磁気的特性との対応を明らかにしている。これらの観測技術の高分解能化と高精度化を図りつつ、新奇に見出された多粒子系・多自由度系物質における創発現象の機構解明を推進している。

研究分野

物理学 / 工学 / 材料科学

研究テーマ

  • 高分解能電子顕微鏡法と分析電子顕微鏡法、さらに電子線ホログラフィーによる微細構造と試料内外の電磁場の解析
  • 試料ホルダーに装着した複数探針による電圧・磁場印加に伴う電磁場の動的変化の追跡
  • 上記観測技術の高分解能化と高精度化と、多粒子系・多自由度系物質における創発現象の機構解明

主要論文

  1. H. S. Park, et al. Electron Holography Studies on Narrow Magnetic Domain Walls Observed in a Heusler Alloy Ni50Mn25Al12.5Ga12.5, Adv. Funct. Mater. 2012, 22, 3434.
  2. Z. Akase, et al. Imaging of magnetic flux distribution in vicinity of insulating particles in high-Tc superconductor by electron holography, J. Appl. Phys. 2012, 111, 033912.
  3. T. Tanigaki, et al. Split-illumination electron holography, Appl. Phys. Lett. 2012, 101, 043101.
  4. W.X. Xia, et al. Magnetization distribution of magnetic vortex of amorphous FeSiB investigated by electron holography and computer simulation, J. Electron Microsc. 2012, 61, 71.
  5. Y. Murakami, et al. Magnetic domain structure in the orbital-spin-coupled system MnV2O4, Phys. Rev. B 2011, 84, 054421.
  6. Y. Murakami, et al. Ferromagnetic domain nucleation and growth in colossal magnetoresistive manganite, Nat. Nanotecknol. 2010, 5, 37.
  7. W. X. Xia, et al. Investigation of magnetic structure and magnetization process of yttrium iron garnet film by Lorentz microscopy and electron holography, J. Appl. Phys. 2010, 108, 123919.
  8. W. X. Xia, et al. Quantitative evaluation of magnetic flux density in a magnetic recording head and pseudo soft underlayer by electron holography, J. Electron Microsc. 2010, 59, 331.
  9. D. Shindo, Y. Murakami, Electron holography study of electric field variations, J. Electron Microsc. 2011, 60, S225.
  10. D. Shindo, Y. Murakami, Electron holography of magnetic materials, J. Phys. D Appl. Phys. 2008, 41, 183002.

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