主要設備・装置
デバイスプロセス装置
- 電子ビーム描画装置(JEOL5D2SR)
- カーボンナノチューブ熱CVD装置
- カーボンナノチューブプラズマ・ホットフィラメントCVD装置
- 超高真空電子ビーム蒸着装置
- RFスパッタ装置
- 平行平板型反応性イオンエッチング装置
- ICP反応性イオンエッチング装置
- 簡易ECRイオンビームシャワー装置
- 抵抗加熱蒸着装置
- 急速加熱アニール装置
- 光リソグラフィー装置(マスクアライナー)
- 超音波ワイアーボンダー
- プラズマCVD装置
- 超高真空カーボンナノチューブ作製装置
など(ほとんどはクリーンルーム内に設置)
評価装置
- 高分解能走査型電子顕微鏡
- 走査型原子間力顕微鏡
- 透過型電子顕微鏡(共同利用機器)
- X線回折装置(共同利用機器)
- 顕微ラマン・フォトルミネッセンス装置
など
デバイス測定装置
- 希釈冷凍機装置(マイクロ波・ミリ波導入機構付き、最大磁場10T)
- 水平磁場光学窓付き4Heクライオスタット(10T)
- 4Heクライオスタット
- ヘリウムフリーマグネット(5T)
- サブミリ波・テラヘルツ波ガスレーザー
- マイクロ波ネットワークアナライザ(20GHz)、電気パルス発生装置、マイクロ波発生器(50GHz)
- 低雑音直流電流測定システム
など